X線回折は、物質の結晶構造、化学組成、物理的特性を明らかにするために使用できる、一般的に使用される非破壊分析技術です。&注意;

1.位相解析

位相解析は、回折線の位置と強度の関係に基づいています。X線回折パターンと原子の配列周期と位相の内容。回折線の位置は原子配列の周期性に関係します。さまざまな相に対して、特定の X 線回折パターンがあります。

2.格子パラメータ

格子定数は、結晶材料の最も基本的な構造パラメータです。理論的根拠 X線格子パラメータを決定するための回折法は、ブラッグの法則、および格子パラメータと結晶面の間隔 d 値の間の関係に従って格子パラメータを計算することです。

3.残留応力

として非破壊検査X 線回折技術を使用すると、残留応力を詳しく調べることができます。巨視的な残留応力は、X 線回折スペクトル上のピーク位置のシフトとして現れます。圧縮応力があると結晶面間の距離が小さくなるため、回折ピークがより高い角度にシフトします。逆に、引張応力がある場合は、結晶面間の距離が広がり、その結果、回折ピークがより低い角度に移動します。