X線 単 結晶 回折計 は 主に 三次元 空間 構造 および 電子 雲 密度 の 結晶 物質 など を 決定するために 使用されます 無機, 有機, and 金属 錯体, and to 分析 構造 の 特殊 材料 など 双晶, 非 対応 結晶, 準結晶% 2c など

を決定 正確 三次元 空間 (含む 結合 長さ, 結合 角度, 配置, 構造, および 偶数 結合 電子 密度) の 新しい 化合物 (結晶) 分子 および 実際の 配列 分子 中 格子; それ できる 情報 を 結晶 セル パラメータ, スペース グループ% 2c 結晶 分子 構造, 分子間 水素 結合 および 弱い 相互作用, as well as 構造 情報 など 分子 配置 および 立体構造。 広く 使用されています 分析 研究 化学 結晶学, 分子 生物学, 薬理学, 鉱物学, および 材料 科学。