小角 X 線散乱は、元のビームに近い小角度範囲における X 線に対する電子の拡散散乱です。小角散乱は、ナノメートルスケールで電子密度が不均一なすべての材料で発生します。&注意;

1.粒度分布におけるSAXSの応用 SAXSは、ナノ粉末の粒度および粒度分布を測定するために広く使用されています。粒度分析結果は粒子や骨材ではなく、一次粒子のサイズを反映します。ナノメートルジルコニアの粒度分布は次のように測定されました。X線小角散乱法。粒度分布のヒストグラムは、試験とデータ処理によって取得されました。

2.配向特性評価サックス配向を使用して材料を直感的に特徴付けることができます。イチジク。図４および５は、合成された配向性カーボンナノチューブのＳＡＸＳおよび模式図を表す。サックス 図からわかるように、左右対称の 2 つの輝点はカーボン ナノチューブの高い配向性を示し、ピークの位置はカーボン ナノチューブのサイズ構造に対応しますが、ランダムに分散したカーボン ナノチューブは配向性を持っていません。そういったパターン。

これまでのところ、サックス テクノロジーは材料の微細構造特性評価のいくつかの側面にうまく適用されており、サックス の理論的方法と応用をさらに研究することは、理論的および実践的に一定の重要性を持っています。