SBA-15 は、高度に規則正しい六角形の直線細孔構造 (p6mm) を備えたメソポーラス シリコン ベースのモレキュラーシーブで、細孔サイズは 5 ～ 50 nm の範囲で変化し、細孔壁はより厚くなります。

規則性メソ多孔質材料のXRD試験

粉末XRD回折角の大きさに応じて広角XRDと小角XRDに分けられます。一般に、結晶の原子配列は規則的であり、ほとんどの結晶面間隔と原子間隔は一桁、つまり 0.2 nm 以下です。現在、ほとんどのメソポーラス材料の原子配列は乱れており、XRD 回折ピークはメソポーラス チャネルの次数に基づいています。

細孔の位置はXRDパターンから決定でき、回折強度は材料内の細孔の次数と細孔壁の密度を反映します。材料が合成された後、材料の相構造は次のように決定されます。小角XRD。

規則性メソ多孔質材料の X 線および SEM 試験

規則性メソポーラス材料はオーダースケールが大きいため、一般的な透過型電子顕微鏡像で細孔の規則的な配置が容易に確認でき、材料の細孔径を測定することができます。TEM 像をフーリエ変換すると、回折材料のパターンが得られ、材料の結晶相を判断することができます。

窒素脱着の特性評価

窒素脱着は、多孔質材料の特性を評価する効果的な方法です。材料の比表面積は窒素吸脱着により求められ、細孔径分布はBJH法により計算されます。規則性メソ多孔質材料の窒素吸着および脱着は、一般に H1 ヒステリシス ループを伴う Ⅳ 等温線です。また、細孔径分布には強いピークが見られます。