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非破壊検査技術 - X線回折
2024-06-21 00:001895年、ドイツの物理学者W.K. X線の存在を初めて発見したのはレントゲンなので、X線はレントゲン線とも呼ばれます。 X線の本質は、波長が非常に短く(約10-8~10-12m)、波動と粒子の二重性を持つ大きなエネルギーを持つ電磁波の一種です。
X線は大きなエネルギーを持っているため、結晶に入射すると、結晶内の原子はX線の作用により周期運動を強いられます。X線、その結果、二次波が原子球の単位で外部に放出され、その波の周波数は入射X線と一致し、このプロセスがX線散乱になります。
アモルファス材料の場合、結晶構造には原子配列の長距離秩序が存在せず、少数の原子範囲でのみ短距離秩序が存在するため、X線回折 アモルファス材料のパターンはいくつかの拡散したマンテルです。ただし、原子配列が 3 次元空間で長く規則正しい結晶材料の場合、X 線回折パターンは特定の位置でのみ増強ピークを示します。
一般に、回折パターンの特性は次の 2 つの側面から構成されると考えられます。
1. の分配法則回折空間内の線。セルのサイズ、形状、方向によって決まります。 2. 回折ビームの強度は、原子の種類と細胞内の位置によって異なります。
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