のX線回折パターンは多結晶パターンを決定するための最も信頼できる基礎として機能し、X線回折パターンはしばしば"指紋"結晶模様の。&注意;

粉末試験後に得られたX線回折データX線回折計結晶パターンは、次の3つのカテゴリに分類されます。(1) 2θ角と結晶面間隔（d値）による多結晶タイプの決定は、医薬品API内の原子と分子の配置と位置情報を表し、結晶タイプの特徴的な情報です。(2) ピーク高さ、ピーク強度、相対ピーク強度は、結晶パターン内の異なる結晶面の分布の統計であり、サンプルの結晶パターンの特徴的な情報であり、結晶パターンの定量分析の基礎となります。(3) FWHMは、サンプルのピーク形状を示します。回折 ピークは多結晶の粒径や形状の特性を反映しており、結晶の種類の特性情報として役立つものではありません。