X 線回折は、材料の X 線回折、その回折パターンの分析を通じて、材料の組成、材料内の原子または分子の構造または形状、およびその他の研究手段を取得します。

その場での 回折ピークの位置と強度の変化に従って、サイクル中に生成される中間体を推測することができ、これらの中間体から反応機構をさらに導き出すことができます。

最近、新しい研究により金属酸化物とゼオライト A の融合に成功し、XRD および FTIR 技術を通じてこのプロセスの謎が明らかになりました。

XRD は X 線回折の略で、物質を扱う人にとって、どのような物質が作成されたとしても、XRD は最も一般的に使用され、最も基本的な特性評価手段です。

で-現場 XRD は、電気化学プロセスにおけるリチウムイオンおよびナトリウムイオン電池システムを研究するために最も人気があり、開発された高度な特性評価手法の 1 つです。

XRD技術はセラミック材料の研究開発において重要な役割を果たします。セラミック材料の合成、調製プロセスの最適化、性能向上、用途の普及に信頼できる科学的根拠を提供します。

混合物中の鉱物相は複雑であり、ピークが重なり合っているため、セメント材料の非晶質相と結晶相を定量することは困難です。標準測定構成を使用して測定サンプルをリートベルト改良することにより、優れた結果が得られます。

材料科学の研究において、X 線回折 (XRD) は重要な実験方法です。XRDデータを通じて、結晶粒径、格子歪み、転位密度などの情報を得ることができます。

粉末X線回折は、薬物の多型を研究する手法の一つで、試料を破壊しない、操作が簡単などの利点があり、現在、薬物の多型の定性・定量分析の主流となっている。

粉末X線回折は、薬物の多型を調べる手法の一つであり、試料を破壊する必要がなく、操作が簡単であるという利点があります。

SBA-15 は、高度に規則正しい六角形の直線細孔構造 (p6mm) を備えたメソポーラス シリコン ベースのモレキュラーシーブで、細孔サイズは 5 ～ 50 nm の範囲で変化し、細孔壁はより厚くなります。

回折パターンの組成は主に回折ピークの位置と強度であり、XRD パターンの分析は強度と位置の変化に基づいて行われ、材料のミクロとマクロの変化を説明します。