正確な測定、卓越した洞察

X 線吸収微細構造分光計 (ゼフ) は、物質の局所的な原子構造や電子構造を研究するための強力なツールであり、触媒、エネルギー、ナノテクノロジーなどの人気分野で広く使用されています。

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物質のミクロの世界を明らかにする鍵

X 線吸収微細構造スペクトル (ゼフ) は、物質の構造と特性を研究するために使用される分析ツールです。ゼフ は、特定のエネルギー範囲内でのサンプルの X 線吸収を測定することにより、サンプル内の原子と分子に関する情報を取得します。ゼフ は、材料の局所的な原子構造または電子構造を研究するための強力なツールです。ゼフ 技術は、材料科学、化学、生物学、その他の分野で広く使用されており、特に触媒、バッテリー、センサーなどの研究分野で使用されています。ゼフ には重要な応用価値があります。ゼフ 技術を通じて、研究者はサンプルの微細構造と特性をより深く理解することができ、新しい材料の設計と最適化に強力なサポートを提供します。

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