高解像度回折計が新たな科学の地平を切り開く

TD-3700高解像度X線回折計は、TD-3500 X線回折計のすべての利点を備え、高性能アレイ検出器を搭載しています。シンチレーション検出器や比例検出器と比較して、回折計算強度を数十倍に高めることができ、より短いサンプリング期間で完全な高感度、高解像度の回折パターンとより高い計数強度を得ることができます。 TD-3700高解像度X線回折計は、従来の回折データスキャンと透過データスキャンの両方の方法をサポートしています。透過モードの解像度は回折モードよりもはるかに高く、構造解析などの分野に適しています。回折モードは回折信号が強く、実験室での日常的な相識別に適しています。また、透過モードでは粉末サンプルを微量にすることができるため、サンプルサイズが比較的小さく、サンプル準備のための回折法の要件を満たしていない場合のデータ取得に適しています。

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