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二次元X線回折計は、金属、セラミックス、ナノマテリアル、ポリマーなど、様々な材料の結晶構造、相組成、結晶性、粒径、欠陥などを精密に分析できます。迅速なデータ取得、高解像度、非破壊検査が可能で、材料開発、プロセス最適化、性能向上をサポートします。その汎用性とマルチモード機能により、材料科学研究に不可欠な装置となっています。

2026/02/27

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