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X 線回折計の回転サンプル ホルダーは、サンプル位置の正確な調整と固定に使用される重要なコンポーネントです。サンプルは自身の平面内で回転できるため、粗い粒子によって生じる誤差を軽減できます。テクスチャと結晶構造を持つサンプルの場合、回転サンプル ホルダーにより、回折強度の再現性が確保され、優先配向が排除されます。 回転サンプルホルダーの動作原理: X 線回折計が作動すると、X 線源によって生成された高エネルギー X 線が、回転するサンプル ステージ上に固定されたサンプルに照射されます。サンプルの特定の結晶構造と格子定数により、X 線はサンプルと相互作用する際に散乱、吸収、回折現象を起こし、ブラッグ方程式の要件に従って回折現象が発生します。 回転サンプルホルダーは設定に応じてより小さな角度で回転することができ、サンプルは異なる角度でX線照射を受けることができ、それによって異なる角度での回折パターンを得ることができます。このようにして、検出器はサンプル回折後のX線強度を測定し、それを電気信号に変換してコンピュータに送信し、データ処理することができます。 回転サンプルホルダーの主な機能は次のとおりです。 回転方法: β軸(サンプル面) 回転速度: 1~60RPM 小さなステップ幅: 0.1 º 動作モード: サンプルスキャン用の定速回転(ステップ、連続) 回転サンプルホルダーの利点: 回転サンプルホルダーは回折データの精度を向上できます。粉末や粒子の形状が不規則なサンプルの場合、従来の粉末サンプルの準備中に優先配向の特性が発生しやすく、回折強度の分布に偏差が生じ、回折結果の分析精度に影響します。サンプルステージを回転すると、適切な空間内でサンプルを一定の形で移動できるため、優先配向の影響をある程度排除でき、回折データの精度が向上します。 回転サンプルホルダーは、さまざまなテストニーズに適応できます。垂直角度測定器、低電力コンパクト粉末回折装置など、さまざまな種類のX線回折角度測定器に適応でき、さまざまなテストニーズに便利です。また、回転サンプルホルダーは、速度やステアリングなどのパラメータを調整することで、さまざまなサンプルとテスト条件の要件を満たすことができます。 回転サンプルホルダーは、機器の分析機能を拡張できます。新しいタイプの回転サンプルステージが絶えず開発され、適用されています。たとえば、さまざまな環境や条件での材料の変化をリアルタイムで監視および分析できる で 場所 電気化学 X 線回折分析用のサンプルステージなどです。これにより、X 線回折装置の分析機能が拡張されます。 要約すると、X 線回折計の回転サンプル ホルダーは、物質の結晶構造情報を正確に取得するために不可欠です。回転サンプル ホルダーは、回折データの精度を向上させるだけでなく、さまざまなテストのニーズに適応し、機器の分析機能を拡張することもできます。