X 線回折計は、主に粉末、ブロック、またはフィルムサンプルの相の定性および定量分析、バルク構造分析、材料構造分析、結晶配向分析、巨視的または微視的応力測定、粒子サイズ測定、結晶化度測定などに使用されます。
