このX線回折計用薄膜アタッチメントは、基板上の薄膜の高精度分析を可能にします。最適化された光学系により基板干渉を抑制し、微弱な薄膜信号を増幅することで、ナノメートルからマイクロメートルまでの信頼性の高いデータを提供します。エレクトロニクス、半導体、新エネルギー分野の研究開発に不可欠です。

2025/12/10

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