バックグラウンド

ニュース

顕微鏡エルフ

小角回折計アクセサリは、X 線回折計で使用される重要なアクセサリです。小角回折計アクセサリを使用すると、ナノ多層膜の厚さテストのために、0° から 5° の非常に小さな角度範囲内で X 線回折測定を行うことができます。材料科学、物理学、化学、生物学などの分野で重要な役割を果たします。 一般的なタイプと特徴: 平行光薄膜アクセサリ:このアクセサリは平行X線ビームを生成でき、薄膜サンプルの小角回折測定に適しています。測定の精度と解像度を向上させ、ビームの発散による測定誤差を減らし、さまざまな厚さと特性の薄膜サンプルにうまく適応できます。 多機能サンプルステージ: 小角回折アクセサリを備えた多機能サンプルステージは、サンプルのその場での加熱、冷却、伸張など、さまざまなテスト環境を提供できます。これにより、さまざまな外部条件下での材料の構造変化の研究がより便利になり、温度、応力、その他の変化時の材料の構造応答をリアルタイムで観察できます。 小角回折計アクセサリは、小角回折とナノ多層フィルムの厚さの正確な測定を実現することで、材料科学、物理学、化学、生物学などの複数の分野で重要な役割を果たし、研究者に材料の微細構造と特性の詳細な調査のための強力なツールを提供します。

2025/02/24
続きを読む
物理世界に対する新たな視点を開く鍵

小角回折計アクセサリは、主に材料のナノスケールパラメータを測定するための、X線回折装置で使用される重要なアクセサリです。対応するアクセサリは小角回折用に構成でき、0°~5°の角度範囲を使用してナノ多層膜の厚さテストを行うことができます。材料のナノスケールパラメータを測定することにより、材料科学、生物学、化学などの分野の研究に強力なツールが提供されています。

2024/12/13
続きを読む
ナノの世界への新たな視点

小角回折計アクセサリは、X線回折(X線回折)実験で使用される特殊な装置であり、主に低角度範囲の回折ピークを測定して材料の微細構造と特性を研究するために使用されます。小角回折計アクセサリは、より低い2θ角度範囲(通常0°から5°以下)内での正確な回折測定を可能にするX線回折計用の特殊な装置です。この技術は、ナノ構造、メソポーラス材料、多層膜、およびその他の材料の研究にとって非常に重要です。対応する小角回折計アクセサリを構成することにより、ナノ多層膜の厚さを正確に測定できます。全体として、小角回折計アクセサリは、材料科学、化学、物理学、およびその他の分野で幅広い応用が期待される、X線回折計の不可欠かつ重要なコンポーネントです。

2024/11/11
続きを読む
最新の価格を取得しますか? できるだけ早く返信します(12時間以内)
This field is required
This field is required
Required and valid email address
This field is required
This field is required