X線検出器の前にグラファイト曲面結晶モノクロメータを設置し、受光スリットを通過したX線を単色化し、X線スペクトルのKα特性のみを検出します。この装置を使用することで、連続X線、Kβ特性X線、蛍光X線を完全に除去でき、信号対雑音比の高いX線回折分析が可能になります。銅ターゲットX線管を対応するモノクロメータと組み合わせて使用​​すると、ミネソタ、鉄、共同、Niベースのサンプルから発生する蛍光X線を除去できるため、さまざまなサンプルの分析に適しています。

グラファイト曲面結晶モノクロメータは、X線回折分析の重要な機器アクセサリであり、主に受信スリットを通過するX線を単色化し、分析の精度と信号対雑音比を向上させるために使用されます。このモノクロメータは、グラファイト結晶の特定の構造を利用して入射X線を選択的に反射し、特定の波長のX線（通常はKα特性X線）のみを通過させ、連続X線、Kβ特性X線、蛍光X線などの他の不要なX線成分をフィルタリングします。この選択反射は、入射光と結晶面の間の角度が特定の条件を満たすと、コヒーレント散乱が発生し、回折ピークが形成されるというブラッグの法則に基づいています。このモノクロメータを使用する場合は、回折ピークの精度と対称性を確保するために、サンプルの準備と配置に注意を払う必要があります。 グラファイト曲面結晶モノクロメータは、化学、化学工学、機械、地質学、鉱物、冶金、建築材料、セラミック、石油化学、医薬品などの材料研究分野で広く使用されています。これらの分野では、結晶構造、相転移、応力状態などの材料の物理的特性を研究するためのX線回折分析に使用されます。X線回折計アクセサリは、ピーク対バックグラウンド比を高め、バックグラウンドノイズを低減することで、分析の精度と信頼性を大幅に向上させます。